蓄冷沖擊試驗箱特別適用于半導體電子器件做溫度破壞測試，主要測試材料結構在瞬間下經溫及溫的連續沖擊環境下所能忍受的程度，得以在短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。本試驗箱根據試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區別在于試驗方式和內部結構不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現高低溫的切換，產品放在提籃里，是隨提籃起移動的。
技術參數：
規格型號：AP-CJ-50/80/100/150/252/480
容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升
內箱尺寸（寬*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）
外形尺寸（寬*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）
試驗溫度范圍：
A表示：-40℃～+150℃
B表示：-55℃～+150℃
C表示：-65℃～+150℃
低溫槽溫度范圍：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃
高溫槽溫度范圍：+60℃～+200℃，升溫速率平均5℃/MIN
溫度波動度：±2.0℃
溫度轉換時間：10S
溫度穩定時間：5MIN，常溫～低溫度5MIN，常溫～高溫度5MIN
內箱材質：SUS304不銹鋼
外箱材質：SUS201紗面不銹鋼或電解鋼板噴塑處理
?蓄冷沖擊試驗箱標準:
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；
2、2GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗；
5、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
6、GJB360.7-87溫度沖擊試驗；
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
9、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
10、GB/T 2423.22-2002溫度變化
11、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗般規則
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環)測試程序的電連接器和插座的環境影響評估
特點
三箱設備區分為：低溫區、測高溫區、試區三部分，測試產品置于測試區，沖擊時高溫區或低溫區的溫度沖入測試區進行沖擊, 測試產品為靜態式。
進口采用觸控式圖控操作界面，操作筒易。
沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區，做冷熱沖擊測試。
系統可作自動循環衙擎或手動選擇性沖擊并可設定二區或三區沖擊及冷沖熱沖啟始。
高溫沖擊或低溫沖擊時，Z大時間可達999H，Z大循環周期可達9999次。
冷卻采復疊式二元冷凍系統，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。
可以試驗沖擊常溫執行滿足標準及試驗方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗;GJB360.7溫度沖擊試驗;GB/2423.22 溫度沖擊試驗。